ProgramLaboratorium2006.doc

(45 KB) Pobierz
PROGRAM ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z PRZEDMIOTU „METROLOGIA”

PROGRAM ĆWICZEŃ LABORATORYJNYCH Z PRZEDMIOTU „METROLOGIA”

DLA STUDENTÓW III ROKU PWSZ W TARNOWIE – SPECJALNOŚĆ „ELEKTROTECHNIKA Z ELEKTRONIKĄ” , ROK 2008/2009

 

 

1.      POMIARY REZYSTANCJI – METODY TECHNICZNE I MOSTKOWE

1. Pomiary rezystancji omomierzem cyfrowym.

2. Pomiar rezystancji metodą porównawczą.

a)      pomiar rezystancji w układzie z poprawnym pomiarem napięcia.

b)     pomiar rezystancji w układzie z poprawnym pomiarem prądu.

3. Pomiary dużych rezystancji megaomomierzem induktorowym.

4. Pomiar mostkami technicznymi:

a)      Wheatstone’a

b)     Thomsona

5. Wyznaczenie rezystywności drutu oporowego.

6. Pomiar rezystancji wewnętrznej źródła napięcia stałego (akumulator).

7. Wyznaczenie charakterystyki elementu nieliniowego (żarówka).

8. Pomiar rezystancji wewnętrznej woltomierza.

 

 

2.      POMIARY TEMPERATURY –CZUJNIKI I APARATURA

1.       Pomiar temperatury termoelementem typu J (Fe-CuNi) i miliwoltomierzem; badanie wpływu temperatury spoiny odniesienia.

2.       Pomiar temperatury termoelementem typu J współpracującym z przemysłowym miernikiem temperatury typu N12T.

3.       Pomiar temperatury czujnikiem rezystancyjnym Pt100:

a.        pomiar rezystancji czujnika omomierzem z wykorzystaniem 2 lub 4 przewodów,

b.       pomiar temperatury przemysłowym miernikiem temperatury N12T z czujnikiem dołączonym za pomocą 2 lub 3 przewodów.

4.       Sprawdzenie funkcji przetwarzania zintegrowanego czujnika AD22100 firmy Analog Devices

 

 

3.      POMIARY IMPEDANCJI – METODY TECHNICZNE I MOSTKOWE

  1. Pomiar parametrów R, L i C  miernikiem cyfrowym L-C typu HM8018.
  2. Pomiar pojemności kondensatora metodą techniczną.
  3. Pomiar parametrów L i R dławika z wykorzystaniem watomierza, woltomierza

i amperomierza.

  1. Pomiar parametrów L i R cewki metodą trzech woltomierzy lub trzech amperomierzy.
  2. Pomiar parametrów L i R cewki metodą rezonansową.
  3. Pomiar parametrów L i R cewki metodą techniczną dla dwóch częstotliwości.
  4. Pomiar parametrów C i tgd kondensatorów zestawianym mostkiem Wiena.
  5. Pomiar parametrów R i L cewki zestawianym mostkiem Maxwella.
  6. pomiar parametrów R i L cewki zestawianym mostkiem Maxwella-Wiena.

 

 

4.      POMIARY TENSOMETRYCZNE – CZUJNIKI I APARATURA

1.       Wyznaczenie stałej k tensometrów poprzez wyznaczenie odkształcenia belki i pomiar metodą zerową.

2.       Pomiar nieznanej masy poprzez pomiar siły zginającej belkę i pomiar .

3.       Pomiar nieznanej masy metodą wychyłową poprzez skalowanie znaną masą.

 

 

5.      ZASTOSOWANIE POMIAROWE OSCYLOSKOPU

1.      Pomiar okresu i częstotliwości przebiegów okresowych za pomocą oscyloskopu:

a)      pomiar metodą bezpośrednią

b)     pomiar metodą porównawczą – krzywych Lissajous

2.      Pomiar częstotliwości przebiegów okresowych za pomocą częstościomierza cyfrowego:

a)      sprawdzenie poprawności działania przelicznika – test

b)     pomiar częstotliwości z automatycznym i ręcznym wyborem zakresu

3.      Pomiar przesunięcia fazowego czwórników za pomocą oscyloskopu:

a)      pomiar metodą bezpośrednią

b)     pomiar metodą elipsy

4.      Wyznaczanie charakterystyk statycznych elementów elektronicznych za pomocą oscyloskopu:

a)      dioda prostownicza

b)     dioda Zenera

 

 

6.      BADANIE WŁASNOŚCI DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW POMIAROWYCH I KOREKCJA DYNAMICZNA

1. Badanie własności dynamicznych przetwornika I-go rzędu i korektora dynamicznego:

a)      dobór kondensatora w korektorze dla dolnoprzepustowego układu inercyjnego według                      odpowiedzi czasowej na wymuszenie skokowe najszybszej wolnej od przeregulowania

b)     wyznaczenie stałych czasowych: samego członu inercyjnego, członu inercyjnego                      z korektorem, samego korektora.

c)      zdjęcie charakterystyk częstotliwościowych: samego członu inercyjnego, członu inercyjnego z korektorem, samego korektora

2. Badanie własności dynamicznych przetwornika II-go rzędu:

a)      wyznaczenie stopnia tłumienia dolnoprzepustowego układu oscylacyjnego na podstawie odpowiedzi czasowej na wymuszenie skokowe

b)     wyznaczenie doświadczalnie dodatkowej rezystancji potrzebnej do uzyskania stopnia tłumienia: z = 0.3, z = 0.5, z = 0.7, z = 1.0 na podstawie odpowiedzi na wymuszenie skokowe

c)      zdjęcie charakterystyk częstotliwościowych dolnoprzepustowego układu oscylacyjnego dla stopnia tłumienia: z = 0.3, z = 0.7

 

 

7.      BADANIE WŁASNOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH PRZETWORNIKÓW A/C I C/A

1.      Obserwacja i badanie działania toru przetwarzania A/C — C/A zbudowa­nego w oparciu o przetwornik A/C bezpośredniego porównania i prze­twornik C/A z sumowaniem prądów:

a)      Obserwacja działania toru przetwarzania A/C i C/A w warunkach dyna­micznych.

b)     Wyznaczanie charakterystyk statycznych przetworników A/C i C/A. Wyznaczanie błędów statycznych.

2.         Obserwacja przebiegów w wybranych punktach i badanie działania kompensacyjnego przetwornika A/C dla różnych wzorców i sterowań:

a)      Kompensacja wagowa ze sterowaniem ręcznym.

b)     Kompensacja wagowa z taktowaniem generatorem wewnętrznym.

c)      Kompensacja równomierna ze sterowaniem ręcznym.

d)     Kompensacja równomierna z taktowaniem generatorem wewnętrznym.

 

 

8.      BADANIE WŁASNOŚCI STATYCZNYCH I DYNAMICZNYCH WOLTOMIERZY CYFROWYCH

 

1.      Obserwacja przebiegów w wybranych punktach woltomierza cyfrowego działającego na zasadzie podwójnego całkowania.

2.      Badanie własności statycznych i dynamicznych woltomierza cyfrowego działającego na zasadzie podwójnego całkowania

2.1.  Wyznaczanie wartości maksymalnej błędu podstawowego woltomierza V628

2.2.  Badanie odporności woltomierza V628 na wejściowe zakłócenia sinusoidalne

3.      Szczególne zastosowanie cyfrowego multimetru:

3.1.  Pomiary spadku napięcia na złączach P-N i relatywne pomiary napięcia.

3.2.  Identyfikacja elementów na podstawie pomiarów tronicznych  i C/A. zacisków „czarnej skrzynki”.

 

 

...
Zgłoś jeśli naruszono regulamin