nanomaterialy06.pdf

(470 KB) Pobierz
WSTÊP DO NAUKI O MATERIA£ACH
Wykład VI, 3.04.2006
DIAGNOSTYKA MATERIAŁÓW
Metody obrazowania powierzchni materiałów;
Oddziaływanie elektronów z materiałami;
Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM);
Transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM);
Badanie składu chemicznego (XPS, ESCA, AES, SIMS).
309178508.085.png
Metody obrazowania powierzchni materiałów
TECHNIKA
OGRANICZENIA
ROZDZIELCZOŚĆ
Oko
Retina
700,000 Å
Mikroskop optyczny
Dyfrakcja światła
3000 Å
Skaningowy mikroskop elektronowy
Dyfrakcja elektronów
30 Å
Transmisyjny mikroskop elektronowy
Dyfrakcja elektronów
1 Å
Jonowy mikroskop polowy
Rozmiar atomów
3 Å
Skaningowa mikroskopia bliskich oddziaływań Rozmiar „próbnika”
0.1 - 100 Å
309178508.096.png
Oddziaływanie elektronów z materiałami
Elektrony w materiałach przeważnie nie
podróżują zbyt daleko.
Elektrony uderzając w materiał
mogą
•zostać rozproszone wstecz
•wybić inne elektrony
(elektrony wtórne)
309178508.107.png 309178508.118.png 309178508.001.png 309178508.012.png 309178508.023.png 309178508.034.png 309178508.039.png 309178508.040.png 309178508.041.png 309178508.042.png 309178508.043.png 309178508.044.png 309178508.045.png 309178508.046.png 309178508.047.png 309178508.048.png 309178508.049.png 309178508.050.png 309178508.051.png
Oddziaływanie elektronów z materiałami, c.d.
Liczba wtórnych elektronów w niewielkim stopniu zależy od liczby atomowej atomów materiału. Liczba
atomów rozproszonych wstecz natomiast jest zależna od liczby atomowej atomów badanego materiału.
Liczba elektronów opuszczających powierzchnię zmienia się
wraz z energią oddziaływujących elektronów. To może w
znacznym stopniu wpłynąć na ładowanie się próbki!!!
309178508.052.png 309178508.053.png 309178508.054.png 309178508.055.png 309178508.056.png 309178508.057.png 309178508.058.png 309178508.059.png 309178508.060.png 309178508.061.png 309178508.062.png
Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM)
Zastosowania:
Obrazy topograficzne
Analiza mikrostrukturalna
Analiza pierwiastkowa w połączeniu z
odpowiednim detektorem (EDAX)
Powiększenie 10-50 000
Schemat
Próbki:
Minimalna wielkość: 0.1 mm;
maksymalna zależy od aparatu
Próbki muszą być przewodzące
lub pokryte przewodzącą warstwą
Próbki muszą być kompatybilne
ze środowiskiem próżniowym
309178508.063.png 309178508.064.png 309178508.065.png 309178508.066.png 309178508.067.png 309178508.068.png 309178508.069.png 309178508.070.png 309178508.071.png 309178508.072.png 309178508.073.png 309178508.074.png 309178508.075.png 309178508.076.png 309178508.077.png 309178508.078.png 309178508.079.png 309178508.080.png 309178508.081.png 309178508.082.png 309178508.083.png 309178508.084.png 309178508.086.png 309178508.087.png 309178508.088.png 309178508.089.png 309178508.090.png 309178508.091.png 309178508.092.png 309178508.093.png 309178508.094.png 309178508.095.png 309178508.097.png 309178508.098.png 309178508.099.png 309178508.100.png 309178508.101.png 309178508.102.png 309178508.103.png 309178508.104.png 309178508.105.png 309178508.106.png 309178508.108.png 309178508.109.png 309178508.110.png 309178508.111.png 309178508.112.png 309178508.113.png 309178508.114.png 309178508.115.png 309178508.116.png 309178508.117.png 309178508.119.png 309178508.120.png 309178508.121.png 309178508.122.png 309178508.123.png 309178508.124.png 309178508.125.png 309178508.126.png 309178508.127.png 309178508.128.png 309178508.002.png 309178508.003.png 309178508.004.png 309178508.005.png 309178508.006.png 309178508.007.png 309178508.008.png 309178508.009.png 309178508.010.png 309178508.011.png 309178508.013.png 309178508.014.png 309178508.015.png 309178508.016.png 309178508.017.png 309178508.018.png 309178508.019.png 309178508.020.png 309178508.021.png 309178508.022.png 309178508.024.png 309178508.025.png 309178508.026.png 309178508.027.png 309178508.028.png 309178508.029.png 309178508.030.png 309178508.031.png 309178508.032.png 309178508.033.png 309178508.035.png 309178508.036.png 309178508.037.png 309178508.038.png
Zgłoś jeśli naruszono regulamin