Metoda Lauego: Skierowanie na nieruchomy kryształ (P) wiązki promieni o widmie ciągłym stwarza możliwość dyfrakcji, ze względu na mnogość płaszczyzn krystalograficznych, które przy określonych kątach A spełniają równanie Bragga. Staramy się stosować promieniowanie krótkofalowe, gdyż warunkiem powstawania refleksu jest. aby l£ 2d. Promieniowanie takie daje lampa z anodą W lub Mo. Promienie ugięte rejestruje się na kliszy (filmie płaskim) umieszczonej prostopadle do wiązki promieni padających przed (K1) lub za badanym preparatem (K2). Ponieważ płaszczyzny krystalograficzne o różnych d uginają promienie pod różnymi kątami A, uzyskujemy na zdjęciu układ refleksów, który odzwierciedla symetrię w płaszczyźnie prostopadłej do wiązki promieni padających. Z układu refleksów wynika, że symetria plamek jest tego samego rzędu, co symetria kryształów. Jeśli kryształ jest ustawiony dowolnie względem wiązki, również refleksy nic będą ułożone symetrycznie. Nic znaczy to jednak. że mają one układ chaotyczny. Płaszczyzny krystalograficzne należące do jednego pasa krystalograficznego dają refleksy układające się na zdjęciu na hiperboli (na kliszy w położeniu K1) lub elipsie (w położeniu K2). Wyznaczanie orientacji monokryształu przeprowadza się metodą opracowaną przez Grenningaa: danymi wyjściowymi są współrzędne ortogonalne refleksów względem środka kliszy. Warunkiem wyznaczenia orientacji jest, aby jedna z wprowadzanych hiperboli była bokiem trójkąta podstawowego. Należy, jeszcze wspomnieć, że doskonałość kryształu wywiera znamienny wpływ na kształt refleksów dyfrakcyjnych. Jeśli kryształ ma budowę doskonałą, refleksy są ostre i jednolite. Można to ocenić obserwując refleks za pomocą mikroskopu świetlnego po uprzednim zmyciu emulsji po jednej stronie filmu. Ze wzrostem defektów i naprężeń refleksy ulegają rozmyciu, co nazywamy asteryzmem.
Metoda obracanego kryształu: Pomimo stosowania monochromatycznego promieniowania, równanie Bragga może być spełnione przy naświetleniu monokryształu ze względu na jego obrót wokół swojej osi. Źródłem promieniowania monochromatycznego (ściślej mówiąc nie jest to promieniowanie całkowicie monochromatyczne, ale pewna długość fali-serii K-a - zdecydowanie dominuje) są przeważnie lampy z anodami wykonanymi z metali o liczbie atomowej 24-29 (Cr-Cu), które dają promieniowanie o długości fali w zakresie ok. 0,23-0,14 nm, zwane charakterystycznym. Kamera ma kształt cylindryczny i na jej wewnętrznej ściance jest założony film (F), zaś w osi kamery jest umieszczony kryształ (K) na uchwycie (U), który w czasie ekspozycji wykonuje obrót. Wiązka promieni przechodzi przez kolimator (knl) i padając na próbkę ulega dyfrakcji, daje obraz warstwicowy. Istnieje ścisła zależność między odległością atomów (a) w kierunku równoległym do osi obrotu próbki a odstępem między warstwicami na dyfraktogramie (h). Periody sieci w innych kierunkach wyznacza się analogicznie, zmieniając kolejno oś obrotu próbki. Metoda obracanego kryształu jest najwygodniejszym sposobem obliczenia wymiarów komórki elementarnej w sieciach o niskiej symetrii. Należy tylko pamiętać, że kryształ musi być ustawiony w taki sposób, aby jedna z jego osi symetrii była równoległa do osi obrotu.
Metoda Debye'a-Scherrera
Wyznaczanie parametru komórki elementarnej: Metodę Debyc'a-Schcrrera zaliczamy do metod proszkowych. Stosuje się w tym przypadku promieniowanie monochromatyczne, wykorzystując najsilniejszą linii K-a widma charakterystycznego odpowiednio dobranej anody lampy rentgenowskiej (Fe, Co, Cu). Różna orientacja cząsteczek proszku lub ziarn w materiale polikrystalicznym względem wiązki promieni monochromatycznych pozwala na spełnienie równania Bragga na-wet bez obrotu próbki. Zwykle jednak próbka w formie pręcika lub kapilary, umieszczona w kamerze, obraca się podczas ekspozycji. Zapewnia to lepszą jednorodność refleksów (zwłaszcza przy materiale gruboziarnistym).W wyniku uzyskujemy zdjęcie prążkowe. Promienie ugięte na określonej rodzinie płaszczyzn {hkl} układają się na pobocznicy stożka, którego kąt wierzchołkowy wynosi 4 A. Tak więc różne płaszczyzny krystalograficzne (o różnych d) tworzą oddzielne prążki dyfrakcyjne, różniące się intensywnością, które są podstawą do obliczenia parametrów sieci. Bez wnikania w szczegóły można tego dokonać następująco:-
1) mierzymy odległości między symetrycznie rozmieszczonymi prążkami na filmie ;
2) stąd, znając promień kamery R, obliczamy A;
3) znając Q i l (stosujemy promieniowanie charakterystyczne o znanej długości fali) możemy z równania Bragga obliczyć d;
4) ponieważ istnieje ścisła zależność między odległością międzypłaszczyznową d wskaźnikami i parametrem komórki elementarnej .
Na podstawie opisanej metody skonstruowano dyfraktometr, w którym zapis intensywności promieni ugiętych odbywa się za pomocą detektora promieniowania. promienie wychodząc z anody lampy rentgenowskiej są kierowane przez układ szczelin na badaną pnihk4, która wykonuje ruch obrotowy wokół osi pionowej, natomiast po okręgu wokół próbki przesuwa się detektor promieniowania z szybkością kątową dwa razy większą niż próbka. W wyniku tego detektor zawsze znajduje się w położeniu 2A względem wiązki padającej na kryształ i w przypadku spełniania równania Bragga przez którąś z płaszczyzn {hkl} może zarejestrować anoda skala ugięte promieniowanie. Impuls z detektora jest wzmacniany i może być skierowany albo do przelicznika impulsów i automatycznie wydrukowany na drukarce, albo zmieniony w integratorze na prąd proporcjonalny do intensywności zarejestrowanego promieniowania i wykorzystany do wykreślenia wykresu w funkcji kąta A. Ponieważ nowoczesne dy-fraktometry są wyposażone w znaczniki kątów B, można wprost z taśmy odczytać wartości kątów 0, pod którymi wystąpiły piki na dyfraktogramie i na podstawie równania Brag-ga obliczyć odległości międzypłaszczyznowe dhkl Zaletą opisanego urządzenia jest możliwość stosowania próbek płaskich oraz bezpośrednie otrzymanie danych bez wywoływa-nia filmów i żmudnych pomiarów odległości między prążkami. Najczęstszym zastosowaniem metody Debye'a-Scherrera w metaloznawstwie jest rentgenowska analiza fazowa, która jest jedyną pewną metodą identyfikacji faz. Polega ona na obliczeniu odległości międzypłaszczyznowych dhkl oraz określeniu względnych intensywności refleksów i porównaniu tych danych z wartościami tablicowymi zestawionymi dla wszystkich znanych już faz. Identyfikacja jest pewna, jeśli na dyfraktogramie istnieje przynajmniej kilka najmocniejszych refleksów wykazanych w tablicach . Oprócz tego metoda ta jest stosowana do badania wielkości ziarna, tekstury, zgniotu i naprężeń wewnętrznych, zmęczenia, uporządkowania w roztworach stałych oraz prze-mian fazowych przy podwyższonych temperaturach.
Badania metalograficzne: Metalografią nazywamy dział metaloznawstwa, który zajmuje się opisem struktury I77CtaI1 i stopów. Metalografia składa się z badań makroskopowych, mikroskopowych i submikroskopowych. Badania makroskopowe przeprowadza się gołym okiem przy niewielkim powiększeniu (do ok. 30 razy).Do badań mikroskopowych używa się różnych mikroskopów· metalograficznych, a obserwacjom poddaje się wypolerowane i zwykle wytrawione zgłady. Graniczne możliwe powiększenia nic przekraczają ok. 2500 razy. Badania submikroskopowe przeprowadza się za Pomocą mikroskopów elektronowych (transmisyjnych, skaningowych). Pozwalają one na uzyskanie bardzo dużych powiększeń, na przykład mikroskop elektronowy transmisyjny na cieńkich foliach daje powiększenie rzędu miliona razy, wystarczające do ujawnienia niektórych defektów sieci krystalicznej (np. dyslokacji, błędów ułożenia).
Badania makroskopowe: Badania makroskopowe służą głównie do oceny jakości materiałów i są powszechnie stosowane w kontroli jakości gotowych wyrobów lub półfabrykatów. Celem tych badań jest wykrycie wszelkich nieciągłości materiału (pęknięć, zawalcowań, pęcherzy podskórnych), oraz niejednorodności chemicznych lub strukturalnych. Ob-serwacji poddaje się naturalne powierzchnie wyrobów lub odpowiednio przygotowane przełomy, albo powierzchnie wyszlifowane i wytrawione odpowiednimi odczynnikami.
A. Badania przełomów. Wykorzystuje się tu fakt, że wszelkie zanieczyszczenia oraz nieciągłości wewnętrzne powodują osłabienie przekroju i mogą być ujawnione na powierzchni przełomu. Próbki wykonywane zwykle w postaci krążków lub prostopadłościanów z karbem lamie się za pomocą pras. Przełomy można wykonywać przy różnych temperaturach. Znana jest na przykład próba przełomu niebieskiego wykony-wana na stali przy temperaturze około 300 °C, przy której metaliczna odnowa barwi się na intensywny kolor niebieski i dzięki temu wszelkie jasne zanieczyszczenia są widoczne na tym tle bardzo wyraźnie. Innym rodzajem próby jest wykonywanie przełomu na próbce poddanej uprzednio ulepszeniu cieplnemu (hartowaniu i odpuszczeniu). W tym przypadku obraz wtrąceń niemetalicznych jest mniej kontrastowy, ale wstają ujawnione wszelkie nieciągłości i osłabienia materiału, wielkość ziarna i charakter przełomu np. międzykrystaliczny, transkrystaliczny, zmęczeniowy, a także pasowość wydzieleń, włóknistość lub pierwotna struktura. Wielkość ziarna ocenia się przez porównanie przełomu ze skalą wzorców. Badanie przełomów bardzo pomaga przy ustalaniu przyczyny powstania awarii (np. bardzo charakterystyczny jest przełom zmęczeniowy, a grube ziarno może świadczyć o przegrzaniu stali). Postępy w rozwoju mikroskopii ska-ningowy pozwoliły na badania przełomów przy dużych powiększeniach. Dzięki temu powstała fraktografia, tj. nauka o pękaniu, która stwarza możliwość wnioskowania o me-chanizmie pękania, a także pozwala na ustalenie przyczyny.
B. Badanie wyszlifowanych powierzchni. Jest ono zawsze połączone z wytrawianiem powierzchni przecięcia. Ważnym elementem tych badań jest odpowiednie wycięcie i przygotowanie powierzchni. Wycinanie następuje za pomocą piły tarczowej lub palnika acetylenowego. W tym ostatnim przypadku należy usunąć warstwę wpływu cieplnego przez zestruganie lub stoczenie. Następnie powierzchnię szlifuje się najpierw na szlifierce do powierzchni, a następnie na papierach ściernych o coraz to drobniejszym ziarnie. Dokładność przygotowania powierzchni zależy od zastosowanej metody badania. Tak więc próbki poddawane głębokiemu trawieniu mogą być mniej dokładnie obrobione, natomiast do innych prób jest wymagana większa dokładność. Próba głębokiego trawienia może być wykonywana na zimno lub gorąco. Przeprowadza się ją przez zanurzenie wyszlifowanej powierzchni w naczyniu z odczynnikiem, lub gdy próbki są duże, odczynnik wlewa się na próbkę, przy czym wcześniej okleja się jej krawędzie naparafinowanym papierem, aby uniknąć ściekania odczynnika. Do głębokiego trawienia stosuje się przeważnie mieszaninę kwasów lub rozcieńczony wodą kwas solny w stosunku 1:1.Podgrzanic odczynnika do temp. 60-80 °C znacznie skraca czas pracy,. Próba głębokiego trawienia jest najczęściej stosowana do badania przekrojów poprzecznych rygli i grubych prętów walcowanych, kutych lub prasowanych. Ujawnia ona ślady jamy skurczowej, rzadzizny, niezgrzane pęcherze, skupiska wtrąceń niemetalicznych, pęk-nięcia, płatki śnieżne oraz dendryty lub kierunek przebiegu włókien. Drugą grupę odczynników, działających bardziej subtelnie, a więc wymagających dokładniejszego przygotowania powierzchni, stanowią odczynniki zawierające związki miedzi. Działają one elektrolitycznie-następuje selektywne wytrawienie i osadzanie miedzi w różnych miejscach na powierzchni w zależności od składu. Należy tu wymienić odczynniki Heyna, Anczyca, Oberhoffera, Fry'cgo. Trzy pierwsze służą do wykrywania mikrosegregacji fosforu w stali (a więc ujawniają strukturę pierwotną lub włóknistość), a czwarty ujawnia linie płynięcia w żelazie oznaczające miejsca, w których została przekroczona granica plastyczności . Do wytrawiania spoin nadaje się bardzo dobrze odczynnik Adlera, który uwidacznia poszczególne warstwy spoiny i strefę wpływu cieplnego.
C. Próba Baumanna. Należy jeszcze wspomnieć o często stosowanej próbie, mającej na celu wykrywanie makrosegregacji, zwanej próbą Baumanna, Ma ona specjalny charakter, gdyż obraz rozkładu siarki utrwala się na papierze fotogra-ficznym. Na wygładzoną powierzchnię nakłada się papier fotograficzny zanurzony uprzednio na kilka minut w 2-5% roztworze wodnym HZSO4, tak aby emulsja przylegała do metalu. Siarczki obecne w stali reagują z kwasem według reakcji
FeS + H2SO4 = FeSO4 + H2S
po czym siarkowodór reaguje z bromkiem srebra, tworząc w miejscach bogatszych w siarkę czarny siarczek srebra
2 AgBr + H2S =Ag2S + 2 HBr
Po zdjęciu papieru z próbki płucze się go w wodzie i utrwala.
D. Próba toczenia schodkowego. Do badania rozkładu wtrąceń niemetalicznych na przekroju pręta stosuje się próbę toczenia lub strugania schodkowego . Na odkrytych przez skrawanie powierzchniach można poza tym ujawnić różnego rodzaju nieciągłości.
Na mikroskopie świetlnym przeprowadza się badanie topografii odpowiednio przygotowanej powierzchni próbki. Ze względu na małą głębię ostrości mikroskopów świetlnych próbka musi być przygotowana w postaci zgładu metalograficznego i może być obserwowana w stanie nie trawionym lub trawionym.
Przygotowanie próbek do badań na mikroskopie świetlnym składa się z następujących kolejnych czynności: a) wycięcie próbki, b) szlifowanie powierzchni, c) polerowanie powierzchni, d) trawienie powierzchni.
Ad. a. Wycinanie. Sposób wycięcia próbki jest uzależniony od zjawisk, które chcemy obserwować, przy czym zwykle zwraca się uwagę na orientację powierzchni zgładu względem kierunku przeróbki plastycznej (zgład wzdłużny, poprzeczny), a w odlewach -względem kierunku odpływu ciepła. Przy wykonywaniu ekspertyz pęknięć próbki pobiera się w taki sposób, aby pokazać okolice pęknięcia, jego dno lub ścianki. Przy badaniu warstw nasyconych innymi pierwiastkami lub odwęglonych, powierzchnia zgładu powinna być prostopadła do badanej warstwy. W przypadku gdy nagrzanie próbki mogłoby wywołać zmiany struktury, próbka musi być chłodzona wodą zarówno przy wycinaniu, jak i szlifowaniu. Materiały miękkie wycina się zwykłą piłką natomiast twarde w stanie zahartowanym za pomocą tarcz ściernych lub drutowych pił elektroiskrowych. Zwłaszcza te ostatnie są szczególnie przydatne, gdyż tną nawet najtwardsze materiały bez nagrzewania ich powierzchni.
Ad. b. Szlifowanie. Po wycięciu próbki należy ją poddać szlifowaniu, najlepiej na szlifierce do płaskich powierzchni, zbierając małymi warstwami, a następnie szlifować na papierach ściernych. Próbki małe należy uprzednio zainkludować w masie plastycznej (bakelit, duracryl, epidian). Szlifowanie rozpoczyna się od papierów gruboziarnistych i przechodzi kolejno na coraz drobniejsze, zmieniając każdorazowo kierunek szlifowania 0 90°. Należy przy tym uważać, aby nie przenosić ziarenek z papierem o grubszym ziarnie na papier o drobniejszym ziarnie, celem uniknięcia powstawania rys. Szlifowanie na drobniejszym papierze prowadzi się tak długo, dopóki nic znikną rysy z poprzedniego szlifowania (poprzeczne). Chcąc obserwować strukturę strefy przypowierzchniowej próbki, trzeba uważać, aby podczas polerowania nie nastąpiło zaokrąglenie przy krawędziach. W tym celu próbki składa się w taki sposób, aby ich badane powierzchnie przylegały ściśle do siebie. Po wyszlifowaniu prostopadłej powierzchni zgładu na najdrobniejszym papierze poddaje się ją polerowaniu.
Ad. c. Polerowanie. Stosuje się dwie techniki polerowania: mechaniczne i elektrolityczne. Polerowanie mechaniczne może być ręczne na wirującej tarczy lub na polerce wibracyjnej. Ma ono jedną zasadniczą wadę: zniekształca strukturę polerowanej warstwy. Przez stosowanie kilkakrotnego trawienia i polerowania warstwa ta zostaje całkowicie usunięta. Poza tym przy polerowaniu mechanicznym mogą ulegać wykruszeniu kruche fazy (np. grafit). Wady te nie występują przy polerowaniu elektrolitycznym. Polerowanie elektrolityczne można przeprowadzać na specjalnych polerkach lub w zwykłej zlewce. Próbka (P), która stanowi anodę, jest zanurzona w elektrolicie, katodą jest zwykle blaszka ze stali nierdzewnej. Zasilanie następuje prądem stałym z prostownika lub akumulatorów. Regulacja napięcia polerowania i prądu, które są wskazywane przez odpowie-dnie mierniki, następuje za pomocą układu opornic lub autotransformatora. W przypadku gdy jest konieczne chłodzenie elektrolitu, zlewkę umieszcza się w ośrodku chłodzącym. Zaletą tej metody jest krótki czas polerowania (nawet kilka sekund) oraz możliwość bez-pośredniego trawienia przez zmniejszenie gęstości prądu. Nie powstaje również warstewka Beilby'ego. Wadą polerowania elektrolitycznego są trudności przy polerowaniu sto-pów wielofazowych i przy doborze warunków prądowych do polerowania. Poza tym składniki elektrolitów mają niekiedy własności trujące (np. KCN, alkohol metylowy) lub wy-buchowe (kwas nadchlorowy).
Ad. d. Trawienie. Celem trawienia jest ujawnienie mikrostruktury próbki. Przy trawieniu chemicznym wykorzystuje się zjawisko selektywnego działania odczynnika trawiącego na różne fazy stopu oraz nawet na różne obszary określonej fazy, na przykład w zależności od jej składu chemicznego lub defektów sieci, co jest spowodowane zróżnicowaniem potencjału elektrochemicznego na powierzchni zgładu. Wiadomo, że różnego rodzaju granice ziaren są tym silniej atakowane przez odczynnik, im większa jest ich energia- Nierówności na powierzchni zgładu, powstałe przez selektywne trawienie, rozpraszają promienie oświetlające zgład w różnych kierunkach, co jest podstawą do tworzenia obrazu w mikroskopie. Znane są również inne metody trawienia, jak na przykład trawienie termiczne, które następuje przy wysokiej temperaturze w próżni, lub jonowe przez bombardowanie wypo-lerowanej powierzchni zgładu jonami obojętnych gazów rozpędzonymi w polu elektrycznym. Ten ostatni sposób ma tę zaletę, że usuwa z powierzchni zgładu wszelkie zanieczy-szczenia i dlatego jest coraz szerzej stosowany.
Budowa i zastosowanie mikroskopu: Mikroskop metalograficzny tym różni się od biologicznego, że pracuje na zasadzie wykorzystania światła odbitego od powierzchni zgładu. Tak więc w jego konstrukcji muszą być uwzględnione odpowiednie oświetlacze, przekazujące światło ze źródła na powierzch-nię obserwowanego zgładu. Jest to typ odwrócony, w którym próbka znajduje się nad obiektywem, ale w powszechnym użyciu są również mikroskopy pracujące w układzie pionowym, gdzie próbkę umieszcza się pod obiektywem. Zasadniczymi częściami mikroskopu: są źródło światła wraz z oświetlaczem, obiektyw, okular i kamera fotograficzna. Mikroskop metalograficzny cechują następujące parametry użytkowe: a) powiększenie całkowite, b) zdolność rozdzielcza, c) głębia ostrości) kontrast obrazu. Powiększenie całkowite stanowi iloczyn powiększenia własnego obiektywu i okularu, z tym, że obiektyw ma zdolność rozróżniania szczegółów w obserwowanym obiekcie, natomiast okular tylko obraz utworzony przez obiektyw, nic uwidoczniając nowych szczegółów. Daje więc tak zwane powiększenie puste. Podobnie powiększalnik nie jest zdolny ujawnić szczegółów na fotografii, jeżeli nie są one zarejestrowane na negatywie. Drugą ważną cechą mikroskopu (a właściwie obiektywu, gdyż każdy mikroskop ma szereg obiektywów do wymiany) jest jego zdolność rozdzielcza d. Rozumiemy przez to najmniejszą odległość między dwoma punktami na próbce, które mogą być jeszcze rozróżnione przy obserwacji. Zależy ona od długości fali użytego promieniowania oraz tak zwanej numerycznej apertury A. A=nsina gdzie: n - współczynnik załamania światła, a - połowa kąta rozwarcia utworzonego przez skrajne promienie wychodzące z określonego punktu próbki i objęte jeszcze przez soczewkę obiektywu. Maksymalny kąt 2a = 144°, a więc sina = 0,95. ponieważ w powietrzu n = 1, to A = sina. Wartość ta jest wygrawerowana na każdym obiektywie. Przy znajomości Amax można wyliczyć maksymalną zdolność rozdzielczą, gdyż d=a/A , a więc jest odwrotnie proporcjonalne do apertury. Zdolność rozdzielczą można zwiększyć zmniejszając lambda i zwiększając A. Najmniejszą długość fali posiada promieniowanie niebieskie a=0,4mm. Natomiast aparturę numeryczną można zwiększyć zwiększając n przez stosowanie specjalnego obiektywu immersyjnego. jest on przystosowany do obser-wacji próbki poprzez warstwę cieczy impresyjnej , którą umieszcza się między próbką i soczewką obiektywu. Ciecz imersyjna zwiększa jasność obrazu. Ponieważ Amax = 1,66 d = (0,4/1,66 )=0,24mm Wartość ta stanowi granicę zdolności rozdzielczej możliwą do osiągnięcia w mikro-skopach świetlnych. Do każdego obiektywu powinien być dobrany odpowiedni okular, tak aby całkowite powiększenie (mikroskopu) mieściło się w zakresie 50-1000 A. Następną ważną cechą obiektywu jest jego głębia ostrości g przez co rozumiemy zakres odległości w kierunku osi optycznej obiektywu, w którym obserwowane szczegóły są ostre. g= 71,5/A*p(1+1/p )mm A p p gdzie: p - powiększenie. Wynika stąd, że głębia ostrości jest w przybliżeniu odwrotnie proporcjonalna do aper-tury numerycznej i całkowitego powiększenia. Przy A =0,30 i p=300x,g=0,8 mm, natomiast stosując obiektyw A = 0,95 i p = 1000x uzyskujemy niezwykle małą głębię ostrości, która wynosi tylko 75 nm. To wyjaśnia poważne trudności w wykonaniu ostrego zdjęcia przy dużym powiększeniu istotną cechą mikroskopu jest kontrast uzyskiwanego obrazu. Zależy on w znacznym stopniu od sposobu oświetlania powierzchni zgładu, a więc typu zastosowanego oświetlacza. Dlatego też nowoczesne mikroskopy mają możliwość łatwej wymiany oświetlaczy. Stosuje się dwa sposoby oświetlania powierzchni próbki: prostopadłe i ukośne. Prostopadłe daje mniejszy kontrast niż ukośne, gdyż to ostatnie powoduje powstawanie cieni, które nadają obrazowi plastyczność. Oświetlenie prostopadłe następuje za pomocą szklanej płytki umieszczonej pod kątem 45° do osi optycznej obiektywu i oświetlonej z boku źródłem światła. Taki sam efekt uzyskuje się przez wprowadzenie pryzmatu z kątem łamiącym 45°. Z tych dwóch sposobów oświetlenia pierwszy daje słabsze oświetlenie próbki i gorszy kontrast, ale mniej zniekształca obraz i dlatego jest stosowany przy dużych powiększeniach. Pryzmat wykazuje przeciwne własności, jaśniej oświetla próbkę, polepsza kontrast, ale ze względu na zniekształcenie obrazu jest stosowany przy mniejszych powiększeniach. W niektórych przypadkach lepsze rezultaty daje obserwacja w tak zwanym ciemnym polu widzenia. W tym przypadku widoczny jest obraz będący jakby negatywem obrazu w jasnym polu widzenia, otrzymanego za pomocą prostopadłego oświetlenia. Ciemne pole widzenia uzyskuje się przez specjalne skośne oświetlenie próbki, polegające na zblendowaniu promieni centralnych, a skierowaniu na próbkę za pomocą pierścieniowych luster jedynie promieni obrzeżnych. Ciemne pole pozwala na ujawnienie wszelkich wad powierzchni zgładu, jak rysy lub pory, a poza tym jest zalecane do badania wtrąceń niemetalicznych ( tlenków i siarczków).Dodatkową zaletą ciemnego pola widzenia jest znaczne polepszenie kontrastu w porównaniu z jasnym...
chomcio_stefan