Instytut Automatyki Przemysłowej
Skład zespołu:
1. Faluta Łukasz
2. Mrowiński Marcin
3. Wechmann Krzysztof
4. Rozdeba Krzysztof
Prowadzący:
2004-01-06
1. Cel ćwiczenia
2. Spis aparatury
Do wykonania tego ćwiczenia wykorzystaliśmy następujący sprzęt laboratoryjny:
- Oscyloskop Hung Chang 20 MHz Ocsylloscope 3502C, o niepewności czułości wychylenia na osiach ox i oy ±2% oraz dokładności pomiaru wychylenia do 0,1 działki.
- Teslomierz TH26 firmy Aspan oznaczony PS-PN-19-07-10-840
- Autotransformator laboratoryjny INCO AL.-2500 oznaczony 19-sT-IVa-305
3. Opis układu pomiarowego
Do wykonania pomiaru pętli histerezy wykorzystaliśmy układ pomiarowy zbudowany zgodnie z rys 15.11 na stronie 182 w skrypcie Politechniki Szczecińskiej „Materaiły pomocnicze do laboratorium z metrologii elektrycznej i elektronicznej”. Parametry i niepewności poszczególnych elementów układu zgodnie z instrukcję pomiarową wyglądają następująco:
- Rezystancja na której spadek napięcia badaliśmy: RN = (1000,00 ± 0,10) W
- Stała czasowa całkowania: TC = (0,90 ± 0,02) s
- Dane próbki (ilości zwojów w uzwojeniach): z1 = z2 = 6000,
- Długość drogi magnetycznej w rdzeniu: lśr = (20,8 ± 0,3) cm,
- Pole przekroju poprzecznego rdzenia: S = (1,77 ± 0,02) cm2.
Dane te przekształciliśmy i w dalszych przeliczeniach stosowaliśmy je w jednostkach SI.
4. Wyniki pomiarów
Pomiary wykonywaliśmy tak, aby oscyloskop wskazał wyniki z możliwie największą dokładnością. Z tego powodu mierzyliśmy wielkości 2 razy większe (np. od - do ), a następnie uzyskany wynik dzieliliśmy przez 2. Odczytane wyniki przenieśliśmy do tabeli. W kolumnie „wartość” podaliśmy wyniki z dużą dokładnością, w dalszej części sprawozdanie wyliczymy z jaką dokładnością jest sens podawać wyniki. Pod tabelą wykonaliśmy przeliczenia, a w następnym punkcie wyliczyliśmy niepewności.
Parametr
Wskazanie oscyloskopu = 2y(x) · Dy(Dx)
Wartość
Jednostka
[V]
[A/m]
[T]
8,7 · 1· 1
125,48077
-
7,9 · 20 · 0,001
0,06695
5,6 · 50 · 0,001
0,11846
Ogólnie natężenie pola mierzone oscyloskopem wyraża się wzorem:, więc A/m
Indukcja magnetyczna mierzona oscyloskopem wyraża się wzorem: , czyli T
T
5. Opracowanie wyników pomiarów
Ponieważ wielkość mierzona zależy od wielu wielkości należy policzyć pochodne cząstkowe po każdej z nich, aby wyznaczyć niepewność całkowitą.
Napięcie na osi ox wskazywane przez oscyloskop ma 2 składniki błędu: Dx i x. W związku z tym niepewność związaną z napięciem można przedstawić jako , gdzie . Ponieważ mierzyliśmy wielkość dwukrotnie większą, niepewność jest 2 razy mniejsza, więc należałoby wynik końcowy podzielić przez 2:
, więc:
Całkowitą niepewność pomiaru natężenia powściągającego indukcji liczymy następująco:
Po przeliczeniach otrzymujemy , czyli A/m
Podobnie przeliczyliśmy niepewność pomiaru parametrów i :
, gdzie . Podobnie jak w poprzednim przypadku, również tutaj . Niepewność pomiarowa związana z czułością odchylania plamki w pionie i w poziomie jest taka sama, jednak w tym przypadku zakres był inny, więc błąd był mniejszy. W pomiarze , jedna działka odpowiadała 20mV, czyli niepewność związana z napięciem na oscyloskopie w tym pomiarze wynosi:
przyjmijmy:
Remanencja magnetyczna zapisana z niepewnością wynosi:
Analogicznie liczymy niepewność pomiaru indukcji nasycenia:
Indukcja nasycenia zapisana z niepewnością:
6. Badanie rozkładu indukcji magnetycznej w szczelinie magnesu.
Następnym naszym zadaniem było badanie rozkładu indukcji magnetycznej w szczelinie magnesu trwałego przy pomocy teslomierza hallotronowego. W tym celu przygotowaliśmy tabelę – macierz wyników pomiaru w której zapisywaliśmy odczytywane wartości. Indukcję badaliśmy na zakresie 2mT/działkę, a w szczególnych punktach o największej indukcji, przechodziliśmy na zakres 10mT/działkę. Po przeskalowaniu wyników na jednakowe jednostki nasza tabela wyników przedstawia się następująco:
6,0
7,0
8,0
8,5
9,0
9,5
10,0
10,5
11,0
colemar